咨询热线400-608-9596
您当前的位置:首页>>新闻动态>>资讯动态
DR探测器的分类有哪些?
发布者:管理员   |   发布时间:2021-05-28   |   所属分类:资讯动态   |   阅读次数:390

DR技术的进步一直都是与平板探测器技术的发展紧密相连的。平板技术发展主要体现在:动态反应时间和尺寸的大小、像素间距、MTF、DQE等方面。根据探测器的工作原理和组成材料的不同,DR探测器的分类主要有三种:CCD、一线扫描和非晶体平板也就是我们所说的X光平板探测器

【CCD】

因为存在着一定的物理局限性,普遍认为CCD并不能够胜任大面积平板的采像工作,而且CCD设备在所采集的图像的质量上与非晶硅/硒平板设备差上一段距离。不过因为CCD的价格优势,在世界范围内仍然有厂家在使用着这种技术。

【一线扫描】

一线扫描也被称作一维线扫描技术,这项技术是由俄罗斯科学院核物理研究所发明出来的,目前我国国内生产该DR探测器的非常少。这项产品虽然设备造价和受照剂量方面都比平板技术要低很多,但是这项技术有着一些先天性的不足:X射线使用效率低、空间分辨率低、成像时间长、成像质量差以及医生和病体会收到大量辐射。

【非晶平板】

非晶平板由不同的材料也可以分为两种类别:a-Se非晶硒层和a-Si非晶硅层

a-Se(非晶硒平板探测器):这是一种直接探测的技术,在硒涂料层直接探测到X光子然后将其电信号转化成数字信号。目前这种技术应用范围较少,属于非主流X光平板探测器。

a-Si(非晶硅平板探测器):这是一种两步数字转换的技术,X光子先变成可见光,然后利用光电探测技术探测到,再将其转化为数字信号。因涂层的技术不同,又可以分为非晶硅+氧化钆平板探测器和非晶硅+碘化铯平板探测器。目前这种技术广泛应用于世界各大知名厂商中,应用范围非常广。

以上就是DR探测器的分类。CCD由于物理方面的限制,生产工艺和门槛也比较低,已经开始逐渐被淘汰了;一线扫描也由于自身的缺憾很那作为主流产品;非晶体平板有具有的优势都不是前两者可以比的,所以目前最为成熟主流的DR探测器就是X光平板探测器。